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电线测厚仪和光学测厚仪都是用于测量材料厚度的设备，但其原理有所不同。
电线测厚仪的原理主要是通过测量电线的某些物理特性来推算其厚度，这种仪器通常包括一个接触式测量头，它能与电线表面接触并产生电信号，这个信号会被转化为数字信号，然后通过内部算法计算电线的厚度，在这个过程中，电线的材料属性、电阻、表面状态等因素都可能影响测量结果的准确性。
而光学测厚仪的原理则是基于光学技术来测量材料的厚度，这种仪器使用一种或多种光学方法（如干涉、反射、透射等）来检测材料表面的反射光或透射光，从而得到材料的厚度信息，干涉式光学测厚仪通过测量光束在材料表面和内部之间的干涉条纹变化来推算材料的厚度，这种测量方式具有高精度、非接触、快速等优点，广泛应用于各种材料厚度的测量。
电线测厚仪和光学测厚仪在测量原理上存在明显的差异，前者主要通过电学原理来测量电线的厚度，后者则基于光学原理对各种材料的厚度进行测量，在选择使用哪种仪器时，需要根据具体的测量需求和材料属性来决定。